Каталог документов NormaCS

ГОСТ Р 57394-2017 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность

ГОСТ Р 57394-2017 входит в следующие классификаторы и разделы
ПромЭксперт	РАЗДЕЛ I. ТЕХНИЧЕСКОЕ РЕГУЛИРОВАНИЕ → V Испытания и контроль → 4 Испытания и контроль продукции → 4.15 Испытания и контроль продукции электронной, оптической и электротехнической промышленности → 4.15.2 Оборудование и аппаратура для радио, телевидения и связи
Классификатор ISO	31 ЭЛЕКТРОНИКА → 31.080 Полупроводниковые приборы → 31.080.01 Полупроводниковые приборы в целом
Классификатор ISO	31 ЭЛЕКТРОНИКА → 31.200 Интегральные схемы. Микроэлектроника
Национальные стандарты	31 ЭЛЕКТРОНИКА → 31.080 Полупроводниковые приборы → 31.080.01 Полупроводниковые приборы в целом
Национальные стандарты	31 ЭЛЕКТРОНИКА → 31.200 Интегральные схемы. Микроэлектроника

ГОСТ Р 57394-2017 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность

Статус: Информация о статусе доступна в коммерческой версии NormaCS. ИУС 7-2017
Текст документа: присутствует в коммерческой версии NormaCS
Страниц в документе: 46
Утвержден: Росстандарт; Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии, 27.02.2017
Обозначение: ГОСТ Р 57394-2017
Наименование: Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность
Ключевые слова: полупроводниковые приборы, интегральные микросхемы, методы ускоренных испытаний на безотказность, кратковременные испытания, длительные испытания.
Дополнительные сведения: доступны через сетевой клиент NormaCS. После установки нажмите на иконку рядом с названием документа для его открытия в NormaCS

ГОСТ Р 57394-2017 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность

Заказать систему NormaCS с полными текстами/изображениями документов

Полнотекстовый поиск по всем документам доступен в демо-версии сетевого клиента

Пожалуйста, дождитесь загрузки страницы...